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中国声称晶片突破EUV关键技术(图)

10小时前 来源: 自由时报 原文链接 评论0条

本文转载自自由时报,仅代表原出处和原作者观点,仅供参考阅读,不代表本网态度和立场。

目前先进制程使用的是极紫外光微影(EUV)技术,荷兰的艾司摩尔(ASML)是行业巨擘,市场由ASML掌握,EUV曝光机更是先进制程必备神器。不过中国的哈尔滨工业大学(哈工大)近期宣布,成功研发出可提供13.5纳米极紫外光的技术,中国媒体认为,这部分解决了中国国产EUV曝光机制造中的光源问题,对于中国EUV光刻机曝光机的制造技术推进意义重大。

综合中国媒体报道,哈工大2024年年底发布新闻,指出该校航天学院赵永蓬教授的“放电等离子体极紫外光刻光源”,在黑龙江省高校与科研院所职工科技创新成果转化大赛中,获得一等奖。而该计划介绍中提到,这项技术可提供中心波长为13.5纳米的极紫外光。

中国声称晶片突破EUV关键技术(图) - 1

晶圆示意图

报道更称,哈工大这次突破的是光源技术波长是13.5纳米,采用粒子加速辐射取得EUV光源,与ASML采用美国光源技术,还需要德国莱卡的透镜技术,才能取得EUV不同,认为哈工大的技术就是一种技术创新突破。

不过报道也称,若要生产EUV曝光机,不仅需要先进的极紫外光源技术,还需要物镜系统、双晶圆平台和控制系统等关键技术。而这4大技术组成了高端EUV曝光机的护城河,非常难超越和颠覆。

本文转载自自由时报,仅代表原出处和原作者观点,仅供参考阅读,不代表本网态度和立场。

关键词: 晶片EUV技术
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